Cover-Bild Mikroskopische phasenmessende Deflektometrie

(0)

39,80 €

inkl. MwSt

Verlag: Universität Erlangen-Nürnberg Lehrstuhl f. Mikrocharakterisierung
Genre: keine Angabe / keine Angabe
Seitenzahl: 80
Ersterscheinung: 2011
ISBN: 9783941741157

Claus Richter

Mikroskopische phasenmessende Deflektometrie

Dieses Produkt bei deinem lokalen Buchhändler bestellen

Meinungen aus der Lesejury

Es sind noch keine Einträge vorhanden.