Cover-Bild Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen
22,99
inkl. MwSt
  • Verlag: Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH
  • Genre: keine Angabe / keine Angabe
  • Ersterscheinung: 13.11.2019
  • ISBN: 9783658265748
Peter Baumann

Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

Simulation mit PSPICE
Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.

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