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Heinz Bartsch (Autor), Jörg Woltersdorf (Autor), Hans-Christian Gerstengarbe (Autor), Peter Werner (Autor)

Elektronenmikroskopische Querschnittsabbildung

von Interfaces und Heterostrukturen in Halbleitern

PREIS:

129,00 €

Reinald Hillebrand (Autor), Kurt Scheerschmidt (Autor), Wolfgang Neumann (Autor), Peter Werner (Autor), Armin Pippel (Autor)

Bildinterpretation in der Hochauflösungs-Elektronenmikroskopie

Numerische und optische Verfahren zur Interpretation elektronenmikroskopischer Hochauflösungsabbildungen kristalliner Objekte

PREIS:

129,00 €