Produktdarstellung Ulrich Rendtel (Autor), Hans-Joachim Lenz (Autor) Adaptive Bayes’sche Stichprobensysteme für die Gut-Schlecht-Prüfung PREIS: 42,99 €
Produktdarstellung Ulrich Rendtel (Autor), Hans-Joachim Lenz (Autor) Adaptive Bayes’sche Stichprobensysteme für die Gut-Schlecht-Prüfung PREIS: 54,99 €