Cover-Bild Adaptive Bayes’sche Stichprobensysteme für die Gut-Schlecht-Prüfung

Band 33 der Reihe "Arbeiten zur Angewandten Statistik"

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Verlag: Physica
Genre: keine Angabe / keine Angabe
Ersterscheinung: 02.07.2013
ISBN: 9783662110270

Ulrich Rendtel, Hans-Joachim Lenz

Adaptive Bayes’sche Stichprobensysteme für die Gut-Schlecht-Prüfung

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Paperback 54,99 €

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