Cover-Bild Adaptive Bayes’sche Stichprobensysteme für die Gut-Schlecht-Prüfung

Band der Reihe "Arbeiten zur Angewandten Statistik"

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54,99 €

inkl. MwSt

Verlag: Physica
Genre: keine Angabe / keine Angabe
Seitenzahl: 231
Ersterscheinung: 12.04.1990
ISBN: 9783790804683

Ulrich Rendtel, Hans-Joachim Lenz

Adaptive Bayes’sche Stichprobensysteme für die Gut-Schlecht-Prüfung

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